웨비나 세부 정보
시간 2026년 ２월 11일
발표자 : 제시카 패터슨
제품 마케팅 관리자
Liquid Instruments
회사 개요
전자 기기의 복잡성이 지속적으로 증가함에 따라 기존의 직렬 테스트 방식은 처리량을 제한하고 개발 및 생산 일정을 연장시킬 수 있습니다. 병렬 장치 테스트는 전체 테스트 시간을 단축하는 실용적인 방법을 제공하지만, 이러한 시스템을 확장하려면 자동화, 동기화 및 측정 조정에 대한 신중한 고려가 필요합니다.
이번 웨비나에서는 FPGA 기반의 재구성 가능한 계측 장비를 활용한 병렬 테스트 자동화를 통해 전자 장치 테스트를 확장하는 실용적인 접근 방식을 소개합니다. 소프트웨어 정의 테스트 시스템을 통해 오실로스코프, 스펙트럼 분석기, 주파수 응답 분석기와 같은 계측 장비를 통합 테스트 프레임워크 내에서 동적으로 구성하고 연동하는 방법을 살펴봅니다. 또한, 병렬 테스트 설정을 통해 최대 2GHz의 시간 영역 및 주파수 영역 측정을 지원하여 여러 장치 또는 채널을 동시에 테스트하면서도 측정 정확도와 타이밍 정렬을 유지하는 방법을 다룹니다. 실제 평가 모듈을 사용한 라이브 데모를 통해 이러한 테스트를 시연할 예정입니다.
참가자들은 파이썬 기반 자동화가 다양한 테스트 시나리오에서 테스트 설정, 실행 및 재사용을 어떻게 간소화하는지 배우게 됩니다. 직렬 측정에서 병렬 측정으로 전환함으로써 엔지니어링 팀은 전체 테스트 시간을 크게 단축하고, 실험실 활용도를 높이며, 장치 특성 분석, 검증 및 생산 테스트 워크플로와 품질 보증을 가속화할 수 있습니다.
참석함으로써 참가자들은 다음과 같은 이점을 얻게 됩니다.
- 병렬 장치 테스트의 기본 원리와 테스트 처리량에 미치는 영향을 이해하십시오.
- FPGA 기반의 재구성 가능한 Moku 계측기가 어떻게 유연한 병렬 테스트 아키텍처를 구현하는지 알아보세요.
- 오실로스코프, 스펙트럼 분석기, 주파수 응답 분석기를 연동하여 시간 영역 및 주파수 영역 측정을 수행하는 방법을 알아보세요.
- 파이썬 기반 자동화가 확장 가능하고 반복 가능한 테스트 워크플로우를 어떻게 구현하는지 이해하십시오.
- 연구 개발 및 생산 환경에서 병렬 테스트 자동화를 통해 실질적인 시간 절약을 달성할 수 있는 부분을 파악하십시오.
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웨비나에는 프레젠테이션, 시연, 실시간 Q&A 세션이 포함됩니다.
